2020-03-24

日本:商標審査便覧を改訂 - 特許庁

特許庁は、立体商標制度及び審査運用の見直しを踏まえた商標審査基準の改訂に伴い、商標審査便覧について以下の改訂を行ったと発表した。

改訂内容
(1) 立体商標に係る出願手続等の整備及びそれに関連する改訂
(2) 立体商標の識別力に関する審査の取扱いに店舗等の外観・内装に係る例や説明を追記する改訂
(3) 店舗等の外観又は内装の立体的形状に係る立体商標の類否判断の取扱いに関する改訂
(4) その他(「類似商品・役務審査基準」(〔国際分類第11-2020版対応〕)改訂に伴う「菓子」の記載の修正など)

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